Виды неисправностей интегральных микросхем

В процессе эксплуатации устройств, выполненных на интегральных микросхемах (ИМС), отказы могут возникать вследствие пробоя микросхемы; пробоя или короткого замыкания в транзисторах, примыкающих к микросхеме; замыкания входа ИМС на общий провод или на «+» источника питания; замыкания выхода ИМС на общий провод или на «+» источника питания; замыкания между дорожками на плате печатного монтажа; обрыва дорожки на плате печатного монтажа; замыкания между выводами микросхемы; завышенной длительности фронта сигнала; «дребезга» сигнала.

Основные из названных неисправностей ИМС изображены на рис. 15.1-15.5.


Для оперативного контроля логического состояния элементов цифровых устройств, поиска простейших неисправностей в аппаратуре, более точной локализации неисправностей, обнаруженных с помощью других приборов, и выполнения других аналогичных работ полезными оказываются простейшие малогабаритные приборы. К таким приборам относятся пробники для определения неисправных транзисторов без выпаивания их электродов из схемы, тестеры логического состояния, стимулирующие генераторы логических сигналов и бесконтактные индикаторы импульсных токов. Эти приборы (особенно при совместном применении) также помогают выявлять неисправности в цифровых схемах.




Вы можете скачать файл реферат "Виды неисправностей интегральных микросхем" курсовую работу абсолютно бесплатно. Скачивая файл, помните, что он служит основой для самостоятельной работы.

Чтобы получить полную информацию, подпишись на нас Vk.com/enciklopediyatehniki