Виды неисправностей интегральных микросхем

В процессе эксплуатации устройств, выполненных на интегральных микросхемах (ИМС), отказы могут возникать вследствие пробоя микросхемы; пробоя или короткого замыкания в транзисторах, примыкающих к микросхеме; замыкания входа ИМС на общий провод или на «+» источника питания; замыкания выхода ИМС на общий провод или на «+» источника питания; замыкания между дорожками на плате печатного монтажа; обрыва дорожки на плате печатного монтажа; замыкания между выводами микросхемы; завышенной длительности фронта сигнала; «дребезга» сигнала.

Основные из названных неисправностей ИМС изображены на рис. 15.1-15.5.

Для оперативного контроля логического состояния элементов цифровых устройств, поиска простейших неисправностей в аппаратуре, более точной локализации неисправностей, обнаруженных с помощью других приборов, и выполнения других аналогичных работ полезными оказываются простейшие малогабаритные приборы. К таким приборам относятся пробники для определения неисправных транзисторов без выпаивания их электродов из схемы, тестеры логического состояния, стимулирующие генераторы логических сигналов и бесконтактные индикаторы импульсных токов. Эти приборы (особенно при совместном применении) также помогают выявлять неисправности в цифровых схемах.


ПОДЕЛИСЬ!