При построении тестов для цифровых устройств одним из основных является вопрос о тестировании комбинационных логических схем (схем без памяти).
В качестве отказов элементов таких схем обычно рассматриваются только отказы типа постоянная единица, вызванные коротким замыканием входа или выхода элемента на высокий потенциал, и постоянный нуль, вызванные замыканием вывода на низкий потенциал. Неисправность типа обрыв следует отнести к первому типу, так как обрыввхода логики типа ТТЛ (например, К155ЛАЗ) будет восприниматься как логическая «I». В общем случае следует учитывать конкретный тип логики.
Некоторый отказ обнаруживается на входном набореХ= {х} только в том случае, если выходные наборы Y для исправной и неисправной схем отличаются друг от друга.
Следовательно, задача построения набора проверяющих тестов заключается в построении множества входных наборов Х= {х}, позволяющих обнаружить все рассматриваемые дефекты контролируемой логической схемы.
Обычно рассматривают одиночные дефекты контролируемой логической схемы, которая имеет один выход, не ограничивая общности рассуждения для любого количества выходов. Для каждого элемента схемы записывается реализуемая им булева функция. Далее промежуточные переменные исключаются и функции приводятся к эквивалентной дизъюнктивной нормальной форме (ЭДНФ) или к эквивалентной конъюнктивной нормальной форме (ЭКНФ) с помощью формул де Моргана.
Для примера рассмотрим схему комбинационного логического устройства, представленную на рис. 16.5.
